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CBED Si [111] pattern

CBED Si [111] pattern

CBED Si [111] pattern

Convergent beam electron diffraction pattern of Si [111] at 100keV simulated by multislice method of electron scattering1. Image shows quantitative correspondence to experimental data including TDS background.

1 MUSLI program [DOI: 10.1016/j.ultramic.2005.03.003]

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